压裂支撑剂比表面及孔径分析仪

仪器简介：压裂支撑剂比表面及孔径分析仪BK122W采用国际通用的静态容量法，即根据标准气体状态方程，利用高精密压力传感器精确测量压力数值，从吸附过程引起的压力变化计算出氮吸附量，准确测定被固体表面吸附的氮气量是这类仪器的*基本功能。气体吸附原理(典型为氮气)， 进行等温吸附与脱附分析， 用于确定比表面积、介孔容积随孔径的变化，包括孔容的微分分布和积分分布，以及总孔体积。

应用领域:吸附剂(如活性碳，硅胶，活性氧化铝，分子筛，活性炭，硅酸钙，海泡石，沸石等);陶瓷原材料(如氧化铝，氧化锆，硅酸盐，氮化铝，二氧化硅，氧化钇，氮化硅，石英，碳化硅等);橡塑材料补强剂(如炭黑，白碳黑，纳米碳酸钙，碳黑，白炭黑等);电池材料(如钴酸锂，锰酸锂，石墨，镍钴酸锂，氧化钴，磷酸铁锂，钛酸锂，三元素，三元素材料，聚合物，聚合物材料，聚合物电池材料，碱锰材料，锂离子材料，锂锰材料，碱性材料，锌锰材料，石英粉，镁锰材料，碳性材料，锌空材料，锌汞材料，乙炔黑，镍氢材料，镍镉材料，隔膜，活性物资，添加剂，导电剂，缓蚀剂，锰粉，电解二氧化锰，石墨粉，氢氧化亚镍，泡沫镍，改性石墨材料，正极活性物质，负极活性物质，锌粉等);金属氧化物(如氧化锌，氧化钙，氧化钠，氧化镁，氧化钡，氧化铁，氧化铜等);磁性粉末材料(如四氧化三铁，铁氧体，氧化亚铁等);纳米金属材料(如纳米银粉，铁粉，铜粉，钨粉，镍粉，铝粉，钴粉等);环保行业(如颜填料，柱填料，无机颜料，碳酸钙，氧化硅，矿物粉，沉积物，悬浮物等);无机粉体材料(如氧化钛，钛白粉，二氧化钛等);纳米材料(如纳米粉体材料，纳米陶瓷材料等);稀土，煤炭，水泥，储能材料，催化剂(硅藻土)，净化剂，助滤剂，发光稀土粉末材料，粉体材料，粉末材料，超细纤维，多孔织物，复合材料等粉体和颗粒材料的比表面积及孔径的检测分析，广泛适用于高校及科研院所材料研究和粉体材料生产企业产品质量监控.

主要产品:全自动智能比表面积仪及中孔微孔分布测试仪，BET法比表面仪，比表面积测试仪，氮吸附比表面积测定仪，比表面检测仪，比表面测量仪，比表面积检测仪，介孔微孔分布测定仪

技术参数：JW-BK122W型比表面及孔隙度分析测试仪

原理：氮吸附法 单层与多层吸附理论 毛细孔凝聚理论

静态容量法 气体状态方程

功能

单点BET和多点BET比表面

吸附和脱附等温线

BJH孔容-孔径分布

总孔体积

平均孔半径

样品质量密度

测试范围

0.0005 m²/g – 无上限（比表面积）；

0.35 nm-500 nm （介孔和微孔分析）；

0.0001 cm³/g- 无上限（孔体积）；

测试精度

在±1.0%范围内（比表面积）；

≤ 0.01nm （超微孔、常见的孔尺寸）；

≤ 0.04%（真密度）；

在±1.5%范围内（外表面积）。

压力测试

样品分析站采用进口的压电薄膜传感器，1000 Torr， 精度≤ 0.15%（读出的值）。

P₀测试

每个样品管均有一个独立的P₀管，其由一个与分析站完全分离的独立压力传感器控制。实时检测吸附物的饱和蒸汽压力， 并实时参与计算。

真空系统

前置机械泵+二级吸附泵（极限真空是6.7*10^-2Pa）。

实验控制流程

平衡压力可实现自动控制，微孔测试时，吸附分为四个投气阶段，脱附分为两个阶段。

仪器特点：

JW-BK122W型比表面及孔隙度分析测试仪的性能特点：

可靠的无泄漏(10-9cc/sec)无污染的真空系统

**稳定性的高灵敏压力传感器(0.25%)

相对压力-平衡时间的全自动控制及平衡技术

独特的真空及气路设计，采用了**的内置式微型调节阀

特有的仪器有效体积及非均匀温度场有效温度的校定方法

16位高分辨A/D转换

计算机全自动操作，数据全自动采集、处理、计算、分析、显示及打印强大功能的实验操作与数据处理专用软件实验过程的实时显示

只用高纯氮气，不用氦气，降低了测试费用

高质量液氮杜瓦瓶防止液氮的挥发，大大降低了液氮的消耗

稳定的无噪音的气动杜瓦瓶升降系统

仪器测量原理

静态体积法分析仪采用低温氮吸附原理，测定氮吸附的静态体积法解释如下：首先，产生真空，使歧管中的压力Pcd0 和样品室的压力接近零。然后，向歧管供应氮气，直到压力达到Pd1。此时，打开位于歧管和样品室之间的电磁阀，向样品室充入氮气。在液氮温度下，氮气将被样品吸附。当氮气吸附得到平衡时，歧管中的压力和样品室的压力达到平衡，均为Pcd1。因此，样品氮吸附的量△V可以通过下面的公式来计算。

△V = (P_d1-P_cd1)V_td - (P_cd1-P_cd0)V_tc

V_d——样品室阀、歧管阀和压力阀之间的体积；

V_e——样品管的体积；

V_x——样品管以上至样品室阀的体积；

V_c——样品室阀以下的样品室体积 (V_c=V_x+V_e);

P_d——样品室阀和歧管阀之间的压力，采用压力传感器测量；

P_cd——代表着样品阀打开时，样品管、压力传感器和气体控制阀之间的压力

V_td = 273.2V_d/101.3T_d， V_td与外气室的体积和温度相关，可实际测量得到；

V_tc = 273.2V_c/101.3T_c， V_tc与样品室的体积和温度相关，可通过实验测得。仪器内部示意图如图

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